لدوائر

أخبار التكنولوجيا

اختبارات إجهاد البوابة لدوائر SiC MOSFETs

يعد فهم أوضاع فشل أجهزة أشباه الموصلات أمرًا أساسيًا لإنشاء اختبارات الفحص والتأهيل والموثوقية التي يمكن أن تضمن عمل الأجهزة…

Read More »
أخبار التكنولوجيا

تحسينات في الأداء ونطاق الجهد لدوائر SiC MOSFETs

تكتسب أجهزة كربيد السيليكون (SiC) قبولًا واسع النطاق في التطبيقات الصناعية وتطبيقات السيارات مثل عاكس الجر والشاحن الموجود على السيارة…

Read More »
Back to top button